Zastosowanie spektrometrii mas jonów wtórnych (SIMS) do badania procesu segregacji w tlenkach metaliAndrzej Bernasik
Zastosowanie spektrometrii mas jonów wtórnych (SIMS) do badania procesu segregacji w tlenkach metali
1 biblioteka1 wydanie · 1994
AGH-Biblioteka Główna
Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica w Krakowie · Krakówstanbardzo niski
Egzemplarze: Biblioteka Narodowa. Lokalizacje bibliotek m.in.: © współtwórcy OpenStreetMap.