Zastosowanie spektrometrii mas jonów wtórnych (SIMS) do badania procesu segregacji w tlenkach metaliAndrzej Bernasik
Zastosowanie spektrometrii mas jonów wtórnych (SIMS) do badania procesu segregacji w tlenkach metali
1 biblioteka1 wydanie · 1994
O książce
- Autor
- Andrzej Bernasik
- Lata wydań
- 1994
- Liczba wydań
- 1
- Języki
- polski
- Rodzaj
- książka
Dostępna w 1 bibliotece: AGH-Biblioteka Główna (Kraków)