Zastosowanie metod spektroskopowych XPS i SIMS w badaniach procesów transportu w warstwie wierzchniej materiałówKazimierz Kowalski

Zastosowanie metod spektroskopowych XPS i SIMS w badaniach procesów transportu w warstwie wierzchniej materiałów

Name: Zastosowanie metod spektroskopowych XPS i SIMS w badaniach procesów transportu w warstwie wierzchniej materiałów
Author: Kazimierz Kowalski

Kazimierz Kowalski

10 bibliotek1 wydanie · 2009

Książka Biblioteki (10)

O książce

Autor: Kazimierz Kowalski
Lata wydań: 2009
Liczba wydań: 1
Języki: polski
Rodzaj: książka

Rozprawa habilitacyjna

Dostępna w 10 bibliotekach: AGH-Biblioteka Główna (Kraków), Biblioteka Jagiellońska (Kraków), Biblioteka Narodowa (Warszawa), AGH-WIMiIP - Biblioteka (Kraków), Biblioteka Główna (Wrocław), Biblioteka Główna Uniwersytetu Gdańskiego (Gdańsk), Biblioteka Główna w Toruniu (Toruń), Biblioteka na Koszykowej (Warszawa), Biblioteka UMCS (Lublin), Książnica Pomorska (Szczecin)