Thin film analysis by x-ray scatteringMario Birkholz
Thin film analysis by x-ray scattering
4 biblioteki1 wydanie · 2006
O książce
- Autor
- Mario Birkholz
- Lata wydań
- 2006
- Liczba wydań
- 1
- Języki
- angielski
- Rodzaj
- książka
Dostępna w 4 bibliotekach: AGH-Biblioteka Główna (Kraków), AGH-WFiIS - Biblioteka (Kraków), Biblioteka Wydz. Chemii, Biblioteka Wydziału Fizyki (Warszawa)